JW-DX 是精微高博自主研发的动态比表面积测定仪，采用专利吸附峰分析技术，特别适用于三元材料、石墨等小比表面积样品的精准测定。4个独立测试通道，无干扰、无差异，确保数据高重复性与平行性。支持选配外置真空脱气装置，有效提升测试效率。全自动操作系统，界面直观，测试结果实时呈现，数据可脱机分析，适配高通量、快节奏实验室应用。
产品特点：
1. 发明专利DX型仪器，不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算，完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差，非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定；（专利号20140320453.2）；
2. 峰形尖锐，每个样品吸附引起的氮浓度改变完全不被冲淡，样品测试灵敏度大幅提高，在保证吸附充分的条件下，大大提高了测试效率，一次完成4个样品的对比法测试只需约20min；
3. 4个，每个样品独立进行吸附过程，实现了多样品的无干扰、无差异测试，完全保证每个分析站测试结果的平行性，重复性误差≤± 1.0%；
4. 选配。外置式4站真空脱气机，可同时进行4个样品的脱气预处理，配合比表面仪主机同时使用，可大大提高测试效率。最高脱气温度400℃；（专利号第2516757号）；
5. 比表面仪器全自动控制及操作；
测试界面上动态显示每个样品的吸附或脱附过程，吸附峰或脱附峰实时显示，每个样品的峰面积及吸附量实时计算；对比法测试时，每个样品的比表面结果实时显示 测试数据自动保存为源文件，支持不联机离线分析，可拷贝；
动态真空加热脱气机配置微型真空泵及加热炉，炉体温度≦400°C±1°C，样品加热脱气后转移到比表面仪主机上即可进行测试。
性能参数：
| 参数名称 | 规格说明 |
|---|
| 测试原理 | 低温氮吸附，流动色谱法 |
| 方法特色 | 采用吸附峰，与静态容量法相同，四个样品独立测试，无干扰，信号峰尖锐，＜10m2/g小比表面样品测试精度明显提高 |
| 测试气体 | 高纯氮气（99.999%）+高纯氦气（99.999%） |
| 氮分压P/P0范围 | 0.05-0.35 （多点BET） |
| 测试范围 | 比表面积0.01m2/g至无已知上限，不适用于微孔材料检测 |
| 重复精度 | 炭黑标准样品≤± 1.0%，与静态容量法测试精度高度一致 |
| 分析站 | 4个 |
| 主机规格 | 长610mm×宽460mm×高680mm，重量约48Kg |
| 环境湿度要求 | 10%-90% |
| 电源要求 | 交流220V±20V，50/60HZ，最大功率300W，电流5A |
| 脱气站 | 标配同位3站，可同时进行三个样品的真空加热脱气；另可选配外置式4站真空加热脱气机 |
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