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精微高博比表面积分析仪DX 400

发布时间:2025-05-23

精微高博DX400比表面积分析仪,基于动态色谱吸附法,精准测试0.1 m²/g以上样品,适用于锂电材料等小比表面积分析。具备高精度TCD检测器、快速BET算法与智能脱气系统,测试速度提升3倍,支持远程控制与多样品连续测定,性能高效稳定。

产品介绍

DX400是精微高博公司最新推出的高效型比表面积测定仪,基于动态色谱分析法原理实现BET比表面积快速测定,相比传统产品,实现准确和快速两大超越 准:可准确测试超小比表面积0.1 m2/g的标准样品,精确到0.01m2/g。 快:测试速度是传统产品的3倍,可实现1小时28个标准样品的超高测试效率。 非常适合钴酸锂、三元材料、磷酸铁锂、石墨、硅碳等电池正负极材料及其他小比表面积样品的测试。

1. 采用吸脱附过程中的脱附过程参与峰面积计算, 经过实 验验证,此方法比吸附法具有更高的精确性和稳定性, 非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的 测定;实验方法可选单点BET或多点BET;

2. 仪器通讯接口为LAN口,可实现一台电脑作为上位机集联控 制,可远程访问和控制该上位机电脑;

3. 标配完全独立的脱气系统,吹扫和真空两种方式可选, 对样品的预处理更智能灵活,更方便。不占用分析站预 处理样品,提高测试效率;

4.仪器前面板上配置状态显示系统,显示仪器的工作原理 图,每个阀位增加LED灯指示电磁阀的通断,在实验过 程中可直观判断仪器的运行过程;

5. 既保留了快插接头安装样品管时的简单易操作性,又没有 快插接头因多次使用导致密封组件受损而引起的漏气。该 卡头可重复拆装且保证密封,相对于快插接头能承受较高 的压力而不泄漏;

6. 为保证仪器的运行安全, (1)TCD检测器增加尾流传感器,防止其干烧,保证 TCD信号的稳定性,同时延长TCD检测器的使用寿命。 (2)开发出底层的监护程序,监控仪器的运行状况, 当仪器出现异常等危险时,自动控制仪器,解除产生危 险的异常状况,保护仪器和操作人员的安全;

7. 高性能真空玻璃内胆杜瓦瓶,采用自主研发工艺定制生产, 既有玻璃内胆的保温效果,又有金属内胆的安全性能,不易 碎; 高性价比真空玻璃内胆杜瓦瓶,保温效果好,可连续测试 10个以上样品; 金属内胆杜瓦瓶,可获得准确结果,安全系数极高。

性能参数:

参数名称规格说明
测试原理流动色谱法低温氮气吸附
检测器精确到0.1mV的定制型热导池,测试0.1 m2/g的样品可精确到0.01 m2/g
比表面积范围>0.1 m2/g,标准样品测试重复性<1%,平行性<1%,长时间稳定性<1%>
分析站

4个


主机规格750*410*785mm,重量约30kg
环境温度要求

15-35℃


电源要求100-240VAC,50/60HZ,最大功率200W
推荐应用领域磷酸铁锂、三元、石墨、钴酸锂、锰酸锂等电池正负极材料,以及其他小比表面积材料


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