国仪量子 SEM2100 在基础微观表征领域具有良好的应用价值，可满足实验室对常规形貌观察与结构分析的需求。其钨灯丝扫描电子显微系统结构成熟、运行稳定，能够实现可靠成像效果，适用于材料表面形貌分析、颗粒结构观察及教学科研实验应用。设备广泛服务于材料基础研究、地质与矿物分析及高校教学实验平台。品牌依托国产仪器制造经验，体现出基础型扫描电镜经济实用优势。
产品特点：
1.使用垂直相机拍摄的光学图片来进行样品导航，所见即所得，样品定位更直观更精确。
2.智能辅助消像散模式下，像散X、Y的数值会随着像素点改变，在最合适的像散值下，图片清晰度最高，从而快速完成像散的调节。
3.使用垂直相机拍摄的光学图片来进行样品导航，所见即所得，样品定位更直观更精确。
| 参数名称 | 规格说明 |
| 分辨率 | 3.9 nm @ 20kV, SE 4.5 nm @ 20kV, BSE |
| 放大倍率 | 1 x～300,000 x |
| 加速电压 | 0.5 kV～30 kV |
| 摄像头 | 光学导航+样品仓内监控 |
| 样品台类型 | 三轴，XYZ轴真空电机驱动 |
| XY行程 | 125mm |
| Z行程 | 50mm |
| 探测器 | 背散射电子探测器 (BSED) |
| 操作软件 | Windows操作系统，中文SEM软件 |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航、轨迹球（选配） |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 |
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